本文標題："帶有質(zhì)譜儀的電子顯微鏡加以分析-電子衍射原理"
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帶有質(zhì)譜儀的電子顯微鏡加以分析-電子衍射原理
在所有這些晶間沉淀脆性的事例中，還必須估計到沉淀處理過程中還會
出現(xiàn)雜質(zhì)偏析的可能性。它們的不利影響將在以后討論，而這會加劇沉淀相
引起的脆性。
我們指出從沉淀相影響沿晶斷裂機制這一現(xiàn)象引伸出來的幾個有
趣的問題。可在斷口上看到處于原先位置的質(zhì)點，并可用帶x射線潛儀的掃
描電子顯微鏡對
它們進行觀察和分析。如果質(zhì)點太小，還可用經(jīng)典的電子顯微鏡復(fù)型技術(shù)把
它萃取下來，再通過電子衍射來鑒定、或通過電子探針或直接用帶有x射線
質(zhì)譜儀的電子顯微鏡加以分析。
這樣一來，解決問題的可能性就增加了。這也體現(xiàn)了顯微斯口學(xué)的長處:它
不僅可用來研究一般的沉淀現(xiàn)象，也是一種解決冶金學(xué)問題的研究方法，因
為把造成某種類型脆性的元素確認出米，就是為消除這種缺陷邁出了重要的
一步。
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